Carbon Dots Glass

表面积和孔径分布的测量是使用氮气吸附-脱附系统（Autosorb iQ，Anton Paar，奥地利）进行的，在 -196 oC 的温度下运行。分析前，每个样品在 120 oC 的真空环境中脱气 6 小时。使用 HEOL-2010 收集 TEM、HRTEM、HAADF-STEM 显微照片。使用紫外-可见分光光度计评估透射光谱，特别是总部位于美国的 PerkinElmer 的 LAMBDA 750 仪器。使用 EXSTAR TG/DTA NETZSCH STA-2500 对粉末状、干燥研磨的样品进行热重 （TG） 分析，温度范围从环境温度到 1000 oC，以每分钟 10 oC 的速率升温。SEM 使用来自德国 Oberkochen Zeiss 的 Auriga S40 仪器进行。XPS 测量使用赛默飞世尔科技的 K-Alpha 光谱仪进行，采用非单色 Al Kα X 射线辐射，恒定通能量为 20.0 eV。所有测量的结合能 （±0.2 eV） 均根据 284.6 eV 的 C 1s 参考信号进行校准。光致发光 （PL） 光谱使用 Edinburgh Instruments Ltd. 的 FLS1000 仪器记录。