验证150GHzCMOS收发机原始测试结果数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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https://nbsdc.cn/general/dataDetail?id=68458199195d262d3d61267a&type=1
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资源简介:
在 150GHz 太赫兹通信芯片研发中,实测数据是验证设计正确性与性能优劣的关键。尽管前期通过建模与仿真完成了系统级和模块级验证(如行为级建模数据集、射频模块仿真数据集),但芯片流片后的实际性能受工艺偏差、寄生效应等因素影响,需通过物理测试验证。本数据集首次公开了 150GHz CMOS 收发机芯片的全链路实测数据,包括相位噪声、功耗、带宽、噪声系数及饱和功率等核心指标,填补了高频芯片从设计到实测的闭环数据空白,为芯片迭代优化、行业标准制定及工程化应用提供了直接数据支撑。该数据集是 “验证 150GHz CMOS 收发机” 研发成果的核心测试佐证材料,主要面向高频通信芯片性能评估、太赫兹集成电路测试与优化领域的研究需求建设。数据由清华大学集成电路高精尖创新中心团队于2023 年 4 月 2 日通过专业测试仪器采集生成,包含 10 个文件,总数据量约639KB,涵盖原始测试数据与可视化结果。数据采集依托高精度测试仪器,遵循标准化芯片测试流程:测试平台搭建:将流片后的芯片焊接至评估板,通过探针台连接至测试仪器(如网络分析仪、噪声系数测试仪、频谱仪等);多维度测试:相位噪声:使用相位噪声分析仪(如 Keysight N9030A)测量锁相环(PLL)的相位噪声(文件 4-1);功耗:通过电源模块实时监测各模块电流与电压,计算总功耗(文件 4-2);带宽:利用网络分析仪(如 Keysight PNA-X)扫频测试发射 / 接收端的增益带宽积(文件 4-3/4/7/8);噪声系数:采用噪声系数测试仪(如 Keysight N8975A)注入噪声源,计算接收端噪声系数(文件 4-5/6);
饱和功率:通过频谱仪(如 Keysight N9040B)测量发射端输出功率随输入功率的压缩特性(文件 4-9/10);数据处理:原始测试数据(.csv 格式)通过 Python、Matlab 等工具绘图生成可视化结果(.png 格式)。
数据主要内容:数据集包含五大类测试指标,覆盖收发机芯片核心性能维度:相位噪声(PLL):文件 4-1:显示 PLL 在 150GHz 载波下的相位噪声曲线,反映时钟信号的稳定性(如偏离载波 1MHz 处的噪声功率密度)。
功耗:文件 4-2:统计芯片整体功耗及各模块(如射频前端、基带电路)的功耗占比,为低功耗设计优化提供依据。发射端性能:带宽(文件 4-3/4):实测发射端 3dB 带宽,验证信号调制带宽是否满足通信协议要求;饱和功率(文件 4-9/10):确定发射端最大输出功率及线性工作范围,评估信号覆盖能力。接收端性能:带宽(文件 4-7/8):测试接收端对高频信号的响应范围,影响解调灵敏度;噪声系数(文件 4-5/6):量化接收端引入的噪声水平,直接关系通信链路的信噪比。数据体量与格式。总数据量:约 639KB,其中 4 个.csv 文件存储原始测试数值(如功率、频率、噪声系数等),5 个.png 文件为可视化图表,1 个说明文件理清数据逻辑;
格式特点:原始数据可直接用于二次分析,图表支持快速性能对比,适合学术论文、技术报告引用。本数据集完全开放共享。
提供机构:
清华大学



