SECOM数据集用于研究生产线测试的简单通过/失败率

Name: SECOM数据集 用于研究生产线测试的简单通过/失败率
Creator: 帕依提提
Published: 2026-07-19T03:10:22+08:00

帕依提提2026-07-19 收录

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Authors: Michael McCann, Adrian JohnstonData Set Information:A complex modern semi-conductor manufacturing process is no

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