CCD Scan 8032: NiFe_8032
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Calibration data set measured at Beamline 4.0.2 of the Advanced Light Source (Berkeley, CA) using the resonant soft x-ray scattering endstation. <em>Scan ID</em>: 8032 Calibration standard with 200-nm X 200-nm pitch
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Zenodo创建时间：
2020-06-30
