各向异性磁电阻薄膜电输运性能及微结构研究
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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资源简介：
各向异性磁电阻薄膜电输运性能及微结构研究数据集主要面向Ta/MgONiFe/MgO/Ta薄膜界面附近的电子结构以及对薄膜电输运性能的影响及机理研究，打破国外高性能AMR磁传感器的技术垄断。数据通过综合物性测量系统、透射电子显微镜、X射线光电子能谱、X射线吸收谱等测试方法产生。主要包括磁电阻值、传感器元件的灵敏度、噪音、薄膜样品的微观结构电镜图和界面电子结构相关数据，数据量3.98MB。
提供机构：
北京科技大学
搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集聚焦于各向异性磁电阻（AMR）薄膜的电输运性能与微观结构研究，旨在探究Ta/MgO/NiFe/MgO/Ta薄膜界面电子结构及其对电输运性能的影响机制，以突破国外高性能AMR磁传感器的技术垄断。数据通过综合物性测量系统、透射电镜、X射线光电子能谱等多种测试方法获取，包含磁电阻值、传感器灵敏度、噪声及薄膜微观结构图像等，数据量约为3.99MB。
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