存算一体芯片全芯片处理能效测试数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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资源简介：
使用存算一体硬件原型系统、FPGA芯片控制器和验证系统对存算一体芯片进行全芯片核心计算能效测试。全芯片处理能效是指存算一体芯片通过激活全部Marco完成1bit*1bit计算操作，其算力与功率的比值。以单阵列核心能效相同的测量方法，测量得到全芯片处理能效≥20TOPS/W，通过全芯片处理能效测试。该数据集记录了对MRAM和ReRAM存算一体芯片进行全芯片能效测试的日志文件、示波器截图以及能效数据计算。
提供机构：
华中科技大学
搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集记录了针对MRAM和ReRAM存算一体芯片进行的全芯片处理能效测试，其能效定义为算力与功率的比值，测量结果不低于20TOPS/W。数据内容包括测试日志文件、示波器截图以及能效计算数据。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
