MoSe2 WSe2异质层间施主-受主对激子

本数据集基于MoSe2/WSe2异质结构，研究了异质结中局域层间激子的发射（LIX）现象及其物理机制。主要包括以下几部分数据：LIX光谱测试数据：不同扭转角度、功率和温度下的PL光谱数据。LIX发射衰减数据：基于时间分辨PL测量，计算得到的LIX发射的快慢衰减率。本数据集有助于深入分析MoSe2/WSe2异质结构的LIX发射特性，为理解异质结构中LIX发射形成的物理机制和光学响应特性提供了实验基础。数据集中测试数据是在2022年1月在中国科学院半导体研究所超晶格实验室测试得到的，数据采集过程中使用了Princeton Instrument公司生产的高分辨光谱仪等设备，测试能量范围为1.34-1.75 eV。数据采集严格遵循实验规范，以确保数据的高精度和可靠性。数据集主要集中在MoSe2/WSe2异质结构的光学特性，特别是LIX发射特性在不同激发功率和温度下的变化。