Semiconductor Wafer Defect Classification Dataset
收藏kaggle2026-01-30 更新2026-02-14 收录
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资源简介：
Industrial Sensor Data for PCA, Anomaly Detection, and ML-Based Quality Control
面向主成分分析（Principal Component Analysis，PCA）、异常检测及基于机器学习的质量控制的工业传感器数据集
创建时间：
2026-01-30
