(Table 1) Major element concentrations in glass shards of marine tephra in co...
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Scanning electron microscope (SEM) JEOL coupled with an X-ray energy dispersion spectrometer (EDS) at 15 kV and 0.3 nA
日本电子（JEOL）生产的扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）配套X射线能谱仪（X-ray Energy Dispersion Spectrometer，EDS），工作参数为15千伏（kV）与0.3纳安（nA）
