64KB MRAM存储器性能测试数据

本数据集基于64KB MRAM封装在FPGA高速测试板，并于常温下接入测试系统进行测试得到的数据。本数据集有助于验证64KB MRAM在常温下的功能及性能符合设计需求。数据集采集的方式为使用高速FPGA测试板，按规定上电后，观察串口模式下的读、写、擦除等功能，验证功能是否正确，并使用示波器观察芯片的时钟信号，可以观察到时钟频率为 100MHz。