基于高分辨EBSD的微观应力与变形微结构原位表征
收藏国家基础学科公共科学数据中心2025-11-08 收录
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资源简介：
高分辨EBSD的空间分辨率 60 nm 是实现亚微米尺度晶体学信息获取的关键指标。该分辨率能在单个晶粒内部捕捉到取向细微偏差、低角度亚晶界以及位错胞等亚结构特征，提供了在表层区域解析微观取向场的能力，使其能够揭示塑性变形过程中伴随的局域取向旋转、错配累积与织构演化特征。高分辨EBSD的晶体取向分辨率0.01 °是解析材料塑性变形过程中取向畸变与亚结构演化的核心性能指标。对于双模镁合金等构型材料体系而言，0.01 °的分辨率可揭示粗晶与细晶交界处的取向不连续性与局域旋转规律，捕捉孪晶形成、消失及其与位错活动的耦合过程，为理解异质组织在应力传递与变形协调中的作用提供了精细化证据。高分辨EBSD的晶格应变分辨率10⁻³体现了其在捕捉材料内部微小晶格畸变与局域应变演化方面的精细能力。该分辨率能够解析晶格参数在千分之一量级的变化，从而揭示弹性应变积累、位错滑移引发的局域畸变以及低角度界面处的应变不连续性。该数据集内容包含间分辨率、晶体取向分辨率、晶格应变分辨率以及任务三的DIC数据、同步辐射数据，数据集总量为78.9GB.
提供机构：
南京工业大学
