InGaAs探测器光电特性测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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资源简介：
1.1 数据概述
InGaAs探测器芯片的光电特性测试数据。
1.2内容描述
利用半导体特性测试系统对InGaAs探测器芯片进行光电性能测试，得到暗态I-V特性曲线。
1.3 目录结构描述
数据集只包含一个文件。
1.4 文件描述
数据为Excel文件，Data表格包含了三列数据，其中第一列为测试时间Time,第二列为测试器件的输出电流值Id,第三列为测试器件的施加电压值Vd。
提供机构：
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
