InGaAs探测器光电特性测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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1.1 数据概述 InGaAs探测器芯片的光电特性测试数据。 1.2内容描述 利用半导体特性测试系统对InGaAs探测器芯片进行光电性能测试，得到暗态I-V特性曲线。 1.3 目录结构描述 数据集只包含一个文件。 1.4 文件描述 数据为Excel文件，Data表格包含了三列数据，其中第一列为测试时间Time,第二列为测试器件的输出电流值Id,第三列为测试器件的施加电压值Vd。
提供机构：
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集提供了InGaAs探测器芯片的光电特性测试数据，通过半导体特性测试系统测量其暗态I-V特性曲线。数据以Excel文件格式存储，包含测试时间、输出电流和施加电压三列关键信息。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
