基于国产仿真器的电路可靠性仿真实验数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2025-12-20 收录
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https://nbsdc.cn/general/dataDetail?id=69418210195d2666dede4886&type=1
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资源简介：
本数据集面向先进工艺芯片可靠性研究需求建设，基于国产电路仿真器进行的对相关测试电路的退化与寿命仿真测试，覆盖不同规模下的电路性能测试。包含已集成可靠性模型的omi代码库文件，还分别包含55nm工艺下和28nm工艺下的反相器、环形振荡器、两位全家器等电路的网表文件以及相关依赖文件，为电路仿真性能验证提供了完整的数据支撑。
提供机构：
西安电子科技大学
