SEMIC-checker

kaggle2026-02-09 更新2026-03-21 收录

集成电路

缺陷检测

数据链接：

https://www.kaggle.com/datasets/debabratadasece/semic-checker 数据链接链接失效反馈

官方服务：

资源简介：

dataset for trtaining your model with ic defects

用于基于集成电路（Integrated Circuit，简称IC）缺陷训练模型的数据集

创建时间：

2026-02-09

晶圆缺陷数据集

光电半导体

缺陷检测

本研究展示了一套从DRAM生产线后端工艺线阶段采集的缺陷复查扫描电镜图像数据集，使用SEM机台拍摄。数据集包含1150张SEM图像，涵盖100多种不同缺陷类别。这些于2023至2024年间采集的图像经专家精心分类，确保缺陷归类的准确性与可靠性。该数据集作为缺陷分析的宝贵资源，对推动半导体产业研发具有重大潜力。通过公开该数据集，促进半导体缺陷检测与分析专用算法的开发，推动该专业领域与更广泛图像处理研

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利用企查查和百度地图挖掘企业信息实验数据集—以珠三角地区为例（1980-2020）

集成电路

数据挖掘

利用“企查查”平台数据和“百度地图”平台数据，通过数据挖掘技术可以得到有关企业的时空分布数据和信息。集成电路产业既是电子信息产业的基础和改造传统产业的核心，也是推动战略性新兴产业不断发展的关键。珠三角地区是我国集成电路产业的集聚区之一。作者通过“企查查”和“百度地图”进行有关珠三角地区集成电路企业数据的采集、处理和综合，得到珠三角地区集成电路企业的时空分布实验数据集（1980-2020）。数据集以

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Automated Defect Characterization and Classificati

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