IROC Technologies / Integrated Circuits SER tests

Integrated Circuits will be tested at ChipIr beam line to reproduce errors induced by terrestrial radiation effects from fast neutrons. Radiation effects tests are part of the overall reliability of electronic components used in several market such as automotive, medical or networking.

将在ChipIr束线对集成电路（Integrated Circuits）进行测试，以复现快中子引发的地面辐射效应所诱导的器件错误。辐射效应测试是应用于汽车、医疗、网络等多个领域的电子元器件整体可靠性验证的组成部分。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集收集于ISIS设施的CHIPIR仪器，用于测试集成电路在快中子辐射下的单粒子效应（SER），以评估电子组件在汽车、医疗等市场中的可靠性。数据以RAW/Nexus格式存储，发布于2022年5月9日，由STFC ISIS Neutron and Muon Source提供。