任意序列发生器I/Obank供电电压波动对ODELAY延时影响测试报告
收藏中国科学院中国科学技术大学科学数据中心2026-01-10 收录
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https://sdc.ustc.edu.cn/dataDetails/2rUaOJYBQwfvTVc54OM3
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资源简介:
实验发现,ODELAY延时存在波动现象,依次考虑温度、振动等外界因素后,发现在输阶跃波形后,ODELAY延时会发生波动,考虑输出阶跃波形时,I/Obank发生波动,从而影响到ODELAY延时,所以本报告进行一系列测试以验证:在一个IObank内的输出通道会互相影响,导致通道间基准延时较小时,通道输出的序列的线性较差,且同时输出的通道越多,干扰越大;在不同IObank内的输出通道不会互相影响,无论同时输出几个通道,INL波形和bin宽都没有太大变化。说明逻辑内通道间的影响可以忽略。
提供机构:
中国科学技术大学物理学院
创建时间:
2023-05-23



