用于研究H2-Ar碰撞和相互作用的高精度腔增强光谱

关于分子碰撞的信息被编码在碰撞微扰分子共振的形状中。分子间的相互作用和线形之间的这种联系在简单系统中表现得最为明显，例如被稀有气体原子扰动的氢分子。我们用高精度吸收光谱和从头计算方法研究了H2-Ar体系。一方面，我们用空化衰荡谱技术记录了氩扰动下氢分子S（1）3-0线的形状。另一方面，我们使用在我们精确的H2-Ar势能面（PES）上进行的从头算量子散射计算来模拟这条线的形状。为了验证PES和与变速碰撞模型分开的量子散射计算方法，我们在后者影响相对较小的实验条件下测量了光谱。在这些条件下，我们理论上的碰撞微扰谱线形状在百分之一的水平上再现了原始的实验谱线。然而，碰撞位移δ0与实验值相差20%。与其他线形参数相比，碰撞位移对计算方法的各种技术方面表现出更高的敏感性。我们确定了造成这种大误差的因素，并发现PES的不准确性是主要因素。关于量子散射方法，我们证明了以一种简单、近似的方式处理离心畸变足以获得碰撞光谱的百分比级精度。