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美国国家标准与技术研究院(NIST)关于公众对构建半导体创新计量数据交换系统(METIS)评论的回应

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国家科技图书文献中心2026-05-09 收录
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2023年12月,美国国家标准与技术研究院(NIST)发布了一份出版物,概述了一个提议中的数据共享平台,名为“BuildingaMetrologyExchangetoInnovateinSemiconductors(METIS)”(建立计量数据交换以促进半导体创新)。该出版物从2023年12月开放至2024年2月以供公众评论,目的是让不同背景的人能够贡献他们的观点,并确保利益相关者能够提供关键反馈,以形成最终文件,概述这个数据交换的愿景。NIST收到了众多评论,并识别出了大体上分为四个具体类别的趋势,分别为:数据安全、数据库实用性和价值、数据来源和可追溯性、已经数据库功能。在这份出版物中,NIST讨论了出现的趋势和主题,并提供了按主题分类的回应。这些回应旨在解决评论中提出的问题和关切,同时帮助塑造METIS平台的最终愿景和实施策略。METIS是NIST为推动半导体行业创新而开发的一个先进的数据交换生态系统,它将促进研究结果的共享和工业界的协作。为了成功服务于微电子界,METIS将致力于以保护知识产权、保护美国安全利益、与NIST获取研究成果的方法保持一致,并能够自我维持以满足未来需求的方式提供研究和数据。METIS旨在为广大的主要利益相关者提供利益,包括微电子供应商、制造商、产品开发人员以及设计、制造和测试半导体、相关零部件及其供应链的学术界和工业界的系统工程师。
提供机构:
美国国家标准与技术研究院
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