Investigation of advanced microelectronics substrates and staff training
收藏DataCite Commons2024-07-04 更新2024-07-13 收录
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https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-1774851760
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资源简介：
MicroLaue will be used to probe the local strain in advanced microelectronics substrates (SiC and Diamond)
提供机构：
European Synchrotron Radiation Facility
创建时间：
2024-07-04
