maxrank高良率分析工具实验数据

本数据集为国家重点研发计划项目“芯片可靠性和良率导向设计方法研究”中，课题二“基于灵敏度分析的高良率分析关键技术”的核心产出，提供了国产高良率分析工具 maxrank (V1.0) 的完整实验与验证数据。数据集以两个覆盖不同工艺节点和设计复杂度的典型电路（55nm SRAM，设计变量数超11万；28nm SRAM bit cell，设计变量数115）为基础，包含了电路网表、12组不同分析模式（3-6 sigma范围、threshold模式及暴力蒙特卡洛模式）的配置文件及对应的详细分析结果。数据采集过程基于中科芯云EDA服务器及ALPS仿真器，并与行业“黄金标准”——传统蒙特卡洛法进行了严格的精度与性能对比。结果表明，maxrank 工具在确保分析结果落在蒙特卡洛法90%置信区间内的前提下，分析速度取得了超过5000倍的提升。该数据集为验证高良率分析工具在处理高维、高sigma难题时的准确性与高效性提供了关键数据支撑，对推动国产EDA工具的研发、评测与应用具有重要价值。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集是国产高良率分析工具maxrank（V1.0）的实验与验证数据，以55nm SRAM和28nm SRAM bit cell两个典型电路为基础，包含电路网表、12组不同分析模式的配置及结果。验证结果表明，在保证分析结果落在蒙特卡洛法90%置信区间的前提下，工具实现了超过5000倍的速度提升，为高维、高sigma场景下的高良率分析提供了关键支撑。