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X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Berlin, Staatsbibliothek zu B...

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B2FIND2026-04-28 收录
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XRF (Elio: 40kV, 80 µA, spot measurements of 120s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification for spots on ink and pigment, vis, NIR and UV light) analysis...

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