工业控制强实时高可靠MCU芯片ESD测试结果数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
下载链接：
https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64edc856bb16e07753c35295&type=1
下载链接
链接失效反馈官方服务：
资源简介：
介绍数据的时间范围、时间精度、空间范围、空间精度、计算方式等。
数据内容：本项数据是高可靠强实时微控制器芯片RIC630的ESD测试结果。
测试设备：Thermo Fisher Scientific Mk.4。
测试条件：本项数据在室温环境下采集，芯片供电电压3.3V。
对应指标：高可靠强实时微控制器芯片的ESD能力。
提供机构：
杭州中天微系统有限公司
