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本数据集汇集了用于InP基MZ调制器的工艺制备、版图设计以及测试产生的相关数据。主要包括InP调制器芯片的工艺流程示意、版图设计、工艺制备过程和调制器性能测试等数据。数据集包含多类数据,其中工艺流程为示意图,采用visio绘制;工艺过程照片采用扫描电子显微镜(SEM)或者光学显微镜拍摄;调制器测试数据采用常规测试方法测试得到,其中半波电压采用三角波法,带宽采用扫频法。

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