Replication Data for: A statistical characterization of dielectric breakdown ...
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资源简介：
This dataset contains the results of Ramped Voltage Stresses (Ig-Vg curves) applied to induce the BD of the gate stack of FDSOI nanowire transistors, together with the...
本数据集收录了为诱导全耗尽型绝缘体上硅（FDSOI）纳米线晶体管栅极堆叠层击穿（Breakdown，BD）所施加的斜坡电压应力（Ramped Voltage Stresses）测试结果，其中包含栅极电流-栅极电压（Ig-Vg）曲线，以及……
