高动态低噪声微光图像传感器芯片设计的ADC最高位数测试数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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本数据集主要面向高动态低噪声微光图像传感器芯片设计的需求建立，基于UV-UIS-IR CCD参数测试光学系统、GPS-3303C直流电源在中国电子科技集团公司第四十四研究所105厂房测试产生，主要记录了器件ADC最高位数测试结果，数据量2.54MB
提供机构：
中国电子科技集团公司第四十四研究所搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集面向高动态低噪声微光图像传感器芯片设计需求，基于UV-UIS-IR CCD参数测试光学系统和GPS-3303C直流电源在中国电子科技集团公司第四十四研究所测试产生，记录了器件ADC最高位数测试结果，数据量为2.54MB。它属于国家重点研发计划项目'高动态微光图像探测器件'的组成部分，涉及电子技术和半导体技术领域。
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