高速率面发射激光器芯片可靠性数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-04-04 收录
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https://nbsdc.cn/general/dataDetail?id=69cd415ff17560281a74ad07&type=1
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资源简介：
本数据集系统性地提供了高速850 nm VCSEL原型器件在标准下的可靠性测试数据。数据采集严格遵循国家标准，确保过程的规范性与结果的可比性。本数据集可为学术界和产业界研究高速VCSEL的失效机理、建立寿命预测模型、优化器件结构与工艺以提升可靠性提供宝贵的实测数据基础，对加速国内高速光芯片的可靠性与成熟度提升具有重要意义。本数据集共114.01MB
提供机构：
浙江老鹰半导体技术有限公司
