物联网低功耗MCU芯片ADC测试数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64edc823bb16e07753c350ff&type=1
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资源简介：
数据内容：1）物联网低功耗MCU芯片中ADC电路的采样率，用信号发生器为ADC输入1KHz正弦波信号，将ADC采样结果存储到SRAM存储器中，导出采样数据，用Matlab显示出正弦波形，计算单个周期的采样点数；2）通过万用表测量ADC工作时候的电流，并使用万用表的存储功能将测试结果保存为csv格式文件。
测试设备：Keithley DMM6500万用表。
测试条件：本项数据在室温环境下采集，芯片供电3V，万用表精度为6位半，测量误差不超过1nA。
对应指标：物联网低功耗MCU芯片ADC测试数据。
提供机构：
东南大学
