物联网低功耗MCU芯片ADC测试数据

数据内容：1）物联网低功耗MCU芯片中ADC电路的采样率，用信号发生器为ADC输入1KHz正弦波信号，将ADC采样结果存储到SRAM存储器中，导出采样数据，用Matlab显示出正弦波形，计算单个周期的采样点数；2）通过万用表测量ADC工作时候的电流，并使用万用表的存储功能将测试结果保存为csv格式文件。 测试设备：Keithley DMM6500万用表。 测试条件：本项数据在室温环境下采集，芯片供电3V，万用表精度为6位半，测量误差不超过1nA。 对应指标：物联网低功耗MCU芯片ADC测试数据。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集包含物联网低功耗MCU芯片中ADC电路的采样率测试与工作电流测量数据。采样率测试通过信号发生器输入1KHz正弦波，将采样结果存储至SRAM后使用Matlab分析并计算周期采样点数；电流测量采用Keithley DMM6500万用表，测试结果保存为CSV文件。所有数据均在室温、3V供电条件下采集，万用表精度为6位半，测量误差不超过1nA。