Refractive index of CdSe/CdZnS NPLs
收藏数据链接：
官方服务：
资源简介：
Ellipsometry measurements result of 69.96 nm thick film with Rms = 3.59 nm
提供机构：
AIP Publishing创建时间：
2025-05-20
社区交流群
科研交流群
商业服务
Ellipsometry measurements result of 69.96 nm thick film with Rms = 3.59 nm