Ultrananocrystalline diamond (UNCD)
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UNCD surface from A. Gujrati, S.R. Khanal, L. Pastewka, T.D.B. Jacobs, "Combining TEM, AFM, and profilometry for quantitative topography characterization across all scales", ACS Appl. Mater. Interfaces 10(34), 29169-29178 (2018)
提供机构：
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2022-08-22
