高鲁棒性柔性双栅氧化物TFT像素电路及驱动电路研制数据集

本数据集围绕高鲁棒性柔性双栅氧化物TFT像素电路及驱动电路研制展开，采集和整理了2023—2026年期间的实验测试数据、仿真模型及相关成果资料。实验采用CH-MagTech CH-350B霍尔测试系统、Agilent 5420 SPM/AFM显微镜、半导体测试仪B1500A等设备，依据相关国家标准开展测试，涵盖氧化物薄膜特性、TFT器件性能、像素电路与GOA电路测试等内容。数据集包含测试样品信息、测试系统参数、原始测试数据、仿真网表文件、版图布局图及成果资料，通过严格的质量控制方法验证数据可靠性，明确误差范围与精度。本数据集可为柔性氧化物TFT显示驱动领域的研究人员提供详实的实验数据支撑，助力相关电路设计优化、器件性能提升及稳定性研究，具有重要的科研重用价值和工程应用参考意义。