GaN_Dislocations_1_EBSD半导体材料表征示例数据

本数据集为GaN样品的EBSD（电子背散射衍射）示例数据，由Naresh Gunasekar测量、Aimo Winkelmann完成数据转换。数据以压缩包形式存储，包含1个文件，无目录层级划分，未区分训练/测试、数据/标签或原始/处理数据类型。