高速高响应低暗电流光电探测器芯片可靠性数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-04-04 收录
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https://nbsdc.cn/general/dataDetail?id=69cd414df17560281a74ace6&type=1
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资源简介：
在800G等高速应用场景中，高速PD芯片不仅需要有卓越的高速性能，更需要拥有极高的稳定性。高速PD芯片在数据中心内的应用有密集度高（密集使用的高速光模块中搭载了阵列化的PD芯片）、使用时间长（以数年为单位）的特点，数据中心内部环境复杂，芯片需在高温、高湿及持续高频电信号应力下工作超过10年，任何由工艺引入的微小缺陷（如侧壁损伤或钝化层破缺）都可能导致暗电流激增或带宽退化，在长期运行中演变成灾难性的失效。因此，在产品研发阶段，通过各种加速试验，将PD芯片置于不同压力环境下，在相对短时间（如2000h）内评估PD芯片的长期失效率与可靠性，甄别PD芯片的失效模式，是本数据集的核心价值之一。本数据集6.14MB
提供机构：
浙江老鹰半导体技术有限公司
