Experimental data on single-event upsets in heavy-ion irradiated 28 nm SRAMs

Name: Experimental data on single-event upsets in heavy-ion irradiated 28 nm SRAMs
Creator: 中国科学院近代物理研究所; Liu杰
Published: 2024-02-28T00:00:00+08:00

科学数据银行2024-03-04 更新2026-04-23 收录

单粒子效应

SRAM辐射效应

数据链接：

https://www.scidb.cn/detail?dataSetId=abe86f3cd80648328ab7a23b12727afd 数据链接链接失效反馈

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资源简介：

Single-event upsets data from commercial 28 nm SRAM memories irradiated with heavy ions at different energies

提供机构：

中国科学院近代物理研究所; Liu杰

创建时间：

2024-02-28

Experimental data on single-event upsets in heavy-ion irradiated 28 nm SRAMs

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