X-Ray Fluorescence and Reflectography Data from Munich, Staatsarchiv München charters Regensburger Niedermunster2, Regensburger Niedermunster 3, and Hochstift Freising 8.
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资源简介：
XRF (Elio: 40kV, 80 µA, spot measurements of 120s each) and reflectography (DinoLite: x50 magnification, vis, NIR and UV light) analysis of inks from Staatsarchiv München charters Regensburger Niedermunster2, Regensburger Niedermunster 3, and Hochstift Freising 8. protocol and results Regensburger Niedermunster and Hoschstift Freising Charters.pptx - protocol and full results Regensburger Niedermunster and Hoschstift Freising Charters_reflectography.zip - complete reflectography Dataset Regensburger Niedermunster and Hoschstift Freising Charters_XRF.zip - complete XRF Dataset Report_Regensburger Niedermunster and Hoschstift Freising Charters.docx - detailed report
提供机构：
Universität Hamburg
创建时间：
2022-12-08
