电致非易失可重构光交叉阵列芯片性能测试数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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资源简介：
进行硅基单片集成的电致非易失可重构光交叉阵列芯片研究。通过光交叉阵列光计算芯片的设计、制备与性能表征测试，记录了光交叉阵列光计算芯片规模、 芯片插损（光纤-光纤）、相邻通道串扰、重构芯片功耗等数据。
提供机构：
上海交通大学
