本数据集包含ATLASPix2芯片在实验室环境下的CV（电容-电压）测量数据，用于芯片特性表征。数据来自相关研究论文，涵盖辐照与非辐照、不同退火条件及温度下的测量结果，共92个文件，支持半导体器件电特性分析。 论文（DOI: 10.1088/1748-0221/15/05/P05022）
