3dB耦合器插入损耗原始数据

薄膜铌酸锂3dB耦合器是光电子集成关键组件之一，面向光通信等应用需求。该器件的插入损耗的测试方法为：光谱仪采集级联的3dB耦合器每个输出端口的光谱，然后用直波导进行归一化处理，最终采用截断法计算得到。数据量为11个传输光谱。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集记录了薄膜铌酸锂3dB耦合器的插入损耗原始数据，共包含11个传输光谱，旨在支持光通信等领域的应用。数据通过光谱仪采集级联耦合器各端口光谱，并经直波导归一化与截断法处理获得。