Supplemental Material
收藏aip.figshare.com2024-07-08 更新2025-01-08 收录
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资源简介：
See Supplemental Material for more details of the atomic force microscopy (AFM) image and height profiles of devices, exchange bias measurement under another method and raw data.
详见补充材料以获取原子力显微镜（AFM）图像及设备高度轮廓的详细信息，以及采用另一种方法进行的交换偏置测量和原始数据。
提供机构：
AIP Publishing
