Субмикросекундная времяразрешающая дифрактометрия как инструмент контроля индуцированных внешним электрическим полем структурных изменений в диэлектрических кристаллах.

Использование времяразрешающих методик имеет важное значение для изучения динамики быстропротекающих процессов, протекающих в кристаллических образцах, в частности, для исследования поведения дефектной структуры и свойств материалов, подвергающихся различного рода внешним воздействиям. Подобные исследования дают понимание процесса переноса заряда в кристаллах с ионной проводимостью, приводящего к образованию новых двумерных приповерхностных структур и новых фаз во внешнем электрическом поле.