InGaN材料TEM表征数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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资源简介：
TEM（透射电子显微镜）是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。通过TEM表征InGaN外延界面晶格结构等信息。
提供机构：
华南理工大学
搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集采用透射电子显微镜（TEM）技术，聚焦于InGaN材料的外延界面晶格结构表征。它由华南理工大学在相关国家重点研发计划项目支持下创建，包含29个文件，总数据量为38.2MB。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
