二维电子材料及异质结构的谱学精确表征研究

二维电子材料及异质结构的谱学精确表征研究数据，数据类型为文件，数据量共3.46GB，共享方式为完全共享。该数据集样品表征部分晶体结构采用高分辨率同步x射线衍射仪（荷兰PANalytical公司的PW3040/60）和北京同步辐射设施（中国1W1A光束线）进行了X射线衍射（XRD）分析；近场光学表征由实验室自主搭建的扫描近场光学显微镜（SNOM）完成，该扫描近场显微镜的主体部分为一台商用原子力显微镜（Bruker，Innova），一台高频锁相放大器（ZurichInstruments，HF2LI）和一台二氧化碳激光器（Accesslaser,S30）构成。其他表征由共聚焦拉曼光谱仪（WITecAlpha300R）、X射线光电子能谱仪（ThermoFisherESCALAB250Xi）、扫描隧道显微镜（Omicron）获得。变温数据在CRYOIndustriesofAmerica,Inc低温输运系统（C04-002-007）实现，通过共聚焦拉曼光谱仪采集数据。输运数据通过精密源表（Keysight-B2920B）和半导体分析仪（AgilentTechnologiesB1500A）实现。以及2篇综述文章。来源于二维电子材料及异质结构的谱学精确表征研究。该数据集样品表征部分晶体结构采用高分辨率同步x射线衍射仪（荷兰PANalytical公司的PW3040/60）和北京同步辐射设施（中国1W1A光束线）进行了X射线衍射（XRD）分析；近场光学表征由实验室自主搭建的扫描近场光学显微镜（SNOM）完成，该扫描近场显微镜的主体部分为一台商用原子力显微镜（Bruker，Innova），一台高频锁相放大器（ZurichInstruments，HF2LI）和一台二氧化碳激光器（Accesslaser,S30）构成。其他表征由共聚焦拉曼光谱仪（WITecAlpha300R）、X射线光电子能谱仪（ThermoFisherESCALAB250Xi）、扫描隧道显微镜（Omicron）获得。数据采集时间地点：北京科技大学、复旦大学；数据采集时间：2019.9.1-2024.8.31。