石墨烯薄膜XRD衍射特征参数表
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资源简介:
该数据集聚焦石墨烯基导热薄膜低能耗制备与性能研究,包含 GO、RGO-HI、RGO-1600、RGO-2600 四类薄膜 (002) 晶面 XRD 定量数据,统一收录 2θ 衍射角与四组样品对应衍射强度。 实验依托改良 Hummers 法制备氧化石墨烯,依次开展碘化氢液相预还原、1600℃碳化、2600℃焦耳热快速石墨化多道工序,通过 X 射线衍射定量分析各工艺对片层间距、晶格有序度、缺陷密度的调控规律。 数据完整记录薄膜从高度氧化无序向标准石墨晶体转变的全过程,区别于仪器原始图谱,是四组样品按相同2θ 步长对齐重采样后形成的结构化数据集,构建了涵盖从高度氧化无序到接近标准石墨晶体完整演变链条的横向对比数据集,实现了对石墨化进程的数字化标定,避免人工对比多张谱图的误差。通过统一格式对比,可量化 2600℃焦耳热相对于 1600℃碳化在层间距缩短上的增益,支撑低能耗工艺优化与构效关系分析。 本数据集有两大特点:1.数据记录完整,呈现了薄膜从高度氧化无序状态向接近标准石墨晶体状态转变的完整结构演变过程;2.数据处理有创新性,非仪器原始图谱,而是将四组数据按相同步长对齐重采样后形成的结构化数
提供机构:
华南理工大学创建时间:
2026-07-23
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数据集介绍

背景与挑战
背景概述
该数据集收录了GO、RGO-HI、RGO-1600、RGO-2600四种石墨烯薄膜的(002)晶面XRD定量数据,包含衍射角和对应强度,记录了从氧化石墨烯经预还原、碳化至高温石墨化的完整结构演变过程。数据通过统一步长重采样和标准化处理,构建了横向对比的结构化数据集,可用于量化不同热处理工艺对层间距的调控效果,支撑低能耗石墨烯导热膜的工艺优化与构效关系研究。
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