five

Imaging the Full strain tensor around through-silicon vias: a pioneer study o...

收藏
B2FIND2026-03-19 收录
下载链接:
https://b2find.eudat.eu/dataset/666cb83a-edf0-5b35-9690-c887a566864b
下载链接
链接失效反馈
官方服务:
资源简介:
Through-Si vias TSVs, an elegant interconnection technique in 3D integrated microelectronics, allow for efficient use of space, providing electrical paths between layers while...
5,000+
优质数据集
54 个
任务类型
进入经典数据集
二维码
社区交流群

面向社区/商业的数据集话题

二维码
科研交流群

面向高校/科研机构的开源数据集话题

数据驱动未来

携手共赢发展

商业合作