电子掺杂量子点体系中的热电子弛豫机理的测量数据集

在大多数无机半导体材料中，热载流子会与晶格（声子）碰撞，在皮秒以内驰豫至带边，导致太阳光子中高于半导体带隙的能量以热能形式耗散。若能对热载流子进行有效利用，可突破单节太阳能电池中Shockley-Queisser效率极限。同时，热载流子的有效利用面向提高光催化效率和敏化光化学反应方面也具有重要意义。因此，探索和构建具有较长热载流子寿命的半导体材料体系进而实现热载流子的有效利用至关重要。
本数据主要是基于飞秒瞬态吸收检测TA装置，对电子掺杂的半导体量子点体系，利用在不同尺寸量子点的导带底预先通过光化学手段掺入平均数目为1.8的电子，采用中红外波段光~4900 nm直接激发电子的带内跃迁产生热电子，可完全阻断热电子到空穴的能量转移通道；探测不同尺寸可见波段（400~600 nm）对应光诱导吸收信号的衰退过程，记录获取热电子弛豫到导带底的动力学信息。观测记录到热电子驰豫的“自旋阻塞”和“声子瓶颈”效应，将最初亚皮秒级别的热电子寿命显著延长至几百皮秒。
本数据集主要面向电子掺杂的半导体量子点体系对热电子弛豫研究领域，为揭示热电子弛豫到导带底的动力学信息及热电子驰豫的“自旋阻塞”和“声子瓶颈”现象，记录了光谱测量以及结构表征等实验中获得的原始数据以及后续分析数据，数据体量为490M。