电磁兼容测试子系统测试数据集

来源：1.车规芯片电磁兼容测试子系统指标验证过程中产生的测试数据；2.运用该测试子系统对典型车规芯片开展电磁兼容测试所产生的测试数据。
背景：在构建车规芯片电磁兼容测试子系统的基础上，开展基于通信芯片、计算芯片、控制芯片、安全芯片、存储芯片的电磁兼容测试数据；
意义：验证电磁兼容测试子系统的试验能力，获取了典型车规芯片的电磁兼容试验数据，为车规芯片电磁兼容测试限值要求的提出提供了数据支撑。
产生方法：在开展车规芯片电磁兼容测试时，由专用测试软件EMC32（软件版本:V10）自动获取产生。
数据量：128.7MB。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集包含车规芯片电磁兼容测试子系统的验证数据及对典型车规芯片的测试数据，旨在验证子系统的试验能力并为相关限值要求提供数据支撑。数据由EMC32软件自动获取，总量为128.7MB。