ИССЛЕДОВАНИЕ ПАРАМЕТРОВ ДЕФЕКТОВ В МНОГОСЛОЙНЫХ ОРГАНИЧЕСКИХ СТРУКТУРАХ ПУТЕМ НИЗКОТЕМПЕРАТУРНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ АДМИТТАНСА

Интерес к исследованиям процессов в многослойных органонеорганических системах связан с перспективами разработки относительно недорогих приборов электроники и фотоники (например, органических светодиодов, фотопреобразователей или тонкопленочных полевых транзисторов) с расширенными функциональными возможностями. Использование электрофизической диагностики органических многослойных систем весьма перспективно, но требует развития методик применительно к новому объекту изучения 1, 2. В докладе представлены результаты исследований параметров дефектов в органических полупроводниковых пленках путем измерений адмиттанса многослойных органических и органонеорганических систем, проведенных в широком диапазоне температур (9 300 К).