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strain imaging in ion implanted Si membranes

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ESRF Portal2025-01-01 更新2026-04-23 收录
半导体应变表征
纳米衍射成像
数据链接：
https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-886461494数据链接链接失效反馈
官方服务：

资源简介：

strain will be imaged using nanodiffraction

提供机构：
Yunge BAI
创建时间：
2025-01-01
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