多模4x100Gbs模拟PAM4数据与时钟恢复电路芯片测试数据集

本数据集中的4×100Gb/s PAM4 CDR芯片以国际先进的SiGe工艺为基础，完成芯片设计、加工流片，保障了芯片性能有效、可靠发挥，其性能直接影响了光模块数据传输性能。
多模4x100Gbps模拟PAM4数据与时钟恢复电路芯片测试数据集包括1个芯片实物照片数据与5类测试数据。5类测试数据分别为56 GBaud眼图测试数据、53.125 GBaud眼图测试数据、输入均衡测试数据、均方根抖动测试数据、延时测试数据，是衡量芯片性能的重要依据，为芯片性能验证与光模块可靠地数据传输提供关键的数据支撑。本数据集54.53MB。